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2023-11-02 21:24| 来源: 网络整理| 查看: 265

半导体集成电路 PWM控制器测试方法 Semiconductor integrated circuits—Test methods of PWM controller 国家标准 推荐性 即将实施

国家标准《半导体集成电路 PWM控制器测试方法》 由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行 ,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所 、成都华微电子科技有限公司 、西安电子科技大学 。

主要起草人 穆永杰 、邓些鹏 、贾宁刚 、闫永超 、杨晓萍 、王策 、包军林 、杨博 、胡巧玉 。

目录 标准状态 发布于 2023-09-07 实施于 2024-04-01 废止 当前标准

GB/T 43061-2023 即将实施

半导体集成电路 PWM控制器测试方法 基础信息 标准号 GB/T 43061-2023 发布日期 2023-09-07 实施日期 2024-04-01 标准类别 方法 中国标准分类号 L55 国际标准分类号 31.200 31 电子学 31.200 集成电路、微电子学 归口单位 全国半导体器件标准化技术委员会 执行单位 全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会 主管部门 工业和信息化部(电子) 起草单位 中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所 西安电子科技大学 成都华微电子科技有限公司 起草人 穆永杰 邓些鹏 杨晓萍 王策 胡巧玉 贾宁刚 闫永超 包军林 杨博 相近标准(计划) 20182269-T-339  半导体集成电路射频发射器/接收器测试方法 SJ/T 11702-2018  半导体集成电路 串行外设接口测试方法 SJ/T 10805-2018  半导体集成电路 电压比较器测试方法 SJ/T 10741-2000  半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 11706-2018  半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 JB/T 5580-1991  半导体集成电路机电仪专用数字电路测试方法 SJ/T 10804-2000  半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000  半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 14028-2018  半导体集成电路 模拟开关测试方法 GB/T 42838-2023  半导体集成电路 霍尔电路测试方法


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