sem扫描电镜的应用

相信大家对SEM扫描电镜了解的差不多了， 今天铄思百检测小编带来的是SEM扫描电镜应用部分的介绍，希望能帮到您！

扫描电子显微镜镜，简称扫描电镜，scanning electronmicroscope，简写SEM。

扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

一、SEM扫描电镜原理：

SEM原理:用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说与样品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并在那里被闪烁器转变为光信号，再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度，显示出与电子束同步的扫描图像。（来源:百度百科)

二、SEM制样观察过程:取样品、干燥、粘台、喷金和观察。

三、SEM扫描电镜的应用:

1、固体样品的微观形貌、结构，样品的微区元素成分、线分布、面分布，广泛应用于纳米技术、材料、物理、化学、环境科学等领域。

2、块体、粉末、磁性、生物样品都适用。

3、适合导电性不佳的样品形貌观察。

四、扫描电镜的优点：

①. 有较高的放大倍数，20-200000倍之间连续可调；

②. 有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；

③. 试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析（即SEM-EDS），因此它是当今十分重要的科学研究仪器之一。

在电子扫描显微镜中，不仅可以利用电子和试样相互作用产生的各种信息来成象，还可以获得多种图像的特殊显示方法，因此可以使得扫描电镜除了观察表面形貌外，配备EDS能谱仪，还可以进行成分和元素的分析。

五、扫描电镜对样品要求：

SEM制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或解理等方法将特定剖面呈现出来，从而转化为可以观察的表面。这样的表面如果直接观察，看到的只有表面加工损伤，一般要利用不同的化学溶液进行择优腐蚀，才能产生有利于观察的衬度。不过腐蚀会使样品失去原结构的部分真实情况，同时引入部分人为的干扰，对样品中厚度极小的薄层来说，造成的误差更大。

以上就是SEM扫描电镜的相关介绍啦！返回搜狐，查看更多

责任编辑：