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仪器简介: 1996年以来,科美在半导体,平板显示器,电子物质,生命科学和化学分析上,研发和提供了独特的,先进的解决方案。科美,作为测量和分析技术市场上的领头和动力,以它突出的表现得到了世界范围的认可。 技术参数: 活动范围 300mm x 300mm 测量范围 100~ 35(Depends on Film Type) 光斑尺寸 40/20,4(option) 测量速度 1~2 sec./site (fitting time) 应用领域 All Capability of ST2000 & More Precision Measurement Intended for Large Size Wafer Measure 选择 Reference sample(K-MAC or KRISS or NIST) Anti-vibration table 接物镜转换器 Quintuple Revolving Nosepiecs 焦点 Coaxial Coarse and Fine Focus Controls 附带照明 12v 100W Halogen Lamp 主要特点: 标准模型 工业规格 自动的X-Y平台 自动调焦 半导体和裂变产物探测 尺寸 500 x 750 x 650 mm 重量 80Kg 类型 自动 测量型号 ≤ 4" 测量方法 无连接的 测量原理 反射计 特征 测量迅速,操作简单 非接触式,非破坏方式 的重复性和再现性 2D/3D 映射和造型 自动机械活动控制 电荷耦合器件照相机 自动调焦 |
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