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薄膜厚度测量仪Thin Film thickness measuring instrument 仪器型号:ST4000-DLX生产厂家:南京科美
技术参数: u测量范围 100Å~ 35㎛ u活动范围 200mm x 200mm(8“), 300mm x 300mm(12”) u光斑尺寸 40㎛/20㎛, 4㎛ u测量速度 1~2 sec./site u应用领域 All Capability of ST2000 & More Precision Measurement Intended for Wafer Measurement & OLED u选项 Programmable Auto Z Stage u焦点 Coaxial Coarse and Fine Focus Controls u附带照明 12v 100W Halogen Lamp u测量样本大小 ≤ 8, 12
仪器用途: 薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
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