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引起坏点的原因

工艺:(a)在sensor的制作过程中有灰尘等引起。

(b)电子产品的寿命影响有限,导致会随着使用时间的增加而引起坏点。

noise : (a)sensor gain 增大

(b)温度增高等. 坏点的分类 时间变化

根据是否随着时间变化分:

静态坏点:不会随着时间、增益等改变,从sensor制造时因为工艺等产生的坏点。

动态坏点:因为增益、温度等引起的坏点,会随着时间变化而变化。

亮度

根据亮度分类:

hot pixel:比周围点亮很多的坏点。 dead pixel:比周围点暗很多的坏点。 weak pixel:没有提供一个正确的像素值,但并没有比周围点特别亮或者特别暗的像素。

集中状态

根据坏点是否集中来分:

单坏点、双坏点、多坏点 指的是单通道上的相邻坏点数量 ,3x3 邻域内出现的。 都在R、G、B一个方向上出现的坏点。

单坏点 在这里插入图片描述 双坏点 在这里插入图片描述 多坏点 在这里插入图片描述

坏点检测

方法

消除算法

在这里插入图片描述 评价指标: 不能损失原有的图像细节 去除所有的坏点 不能引起artifact 静态坏点消除 一般在sensor或则和模组产线上进行标定,并将坏点位置写在OTP(one time programmable) 里面。 在这里插入图片描述 也可用ISP静态坏点修正,通过SOC的I2C接口,从OTP读出来,写到SOC的memory里面,然后进行坏点矫正。

动态坏点判断方法 以G5为例 在这里插入图片描述 在这里插入图片描述 hot pixel:比 AVG +dif 大的点。 dead pixel:比 AVG -dif 小的点。

动态坏点修正: 静态坏点:中值滤波 根据边缘情况,选择均值滤波的像素点

在这里插入图片描述

Corner case noise的影响,高噪声(坏点检测矫正时根据ISO强度进行调试,根据噪声强度判断是否是坏点)高亮的孤立点(红绿灯案例,LED点阵灯)分辨率卡(密集的条纹不可被抹平)


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