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扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
扫描电镜的优点：
①. 有较高的放大倍数，20-200000倍之间连续可调；
②. 有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；
③. 试样制备简单，目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置，这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析（即SEM-EDS），因此它是当今十分重要的科学研究仪器之一。
扫描电镜的组成及原理： 扫描电子显微镜由电子光学系统，信号收集及显示系统，真空系统及电源系统组成。从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。 当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动（声子)、电子振荡（等离子体）。 扫描电镜的应用范围： 1. 生物：种子、花粉、细菌…… 2. 医学：血球、病毒…… 3. 动物：大肠、绒毛、细胞、纤维…… 4. 材料：陶瓷、高分子、粉末、金属、金属夹杂物、环氧树脂…… 5. 化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥（杆菌） 、机械、电机及导电性样品，如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察……）电子材料等。 6. 新型陶瓷材料分析 |
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