门电路逻辑功能及测试 | 您所在的位置:网站首页 › 总结基本门电路逻辑功能的测试方法 › 门电路逻辑功能及测试 |
一、实验目的 1. 熟悉门电路逻辑功能; 2. 学会运用mutisim进行门电路逻辑功能验证仿真。 二、实验原理 利用与非门、或非门和异或门的性质,来实现反相器(非门)功能。 三、实验仿真仪器、元件 1.电脑和Mutisim仿真软件; 2.常见逻辑门芯片:与非门、或非门、异或门。 四、实验内容与步骤 1.利用multisim进行对应逻辑电路图的设计 2.逻辑门电路逻辑功能仿真与测试 3.逻辑电路的逻辑关系变换,用与非门、或非门和异或门来实现反相器(非门)功能,并进行仿真测试。 五、实验仿真结果及分析报告 1.逻辑电路图如下: 2. 通过mutisim 仿真软件画出仿真电路图(截图): 3. 对以上门电路进行功能仿真和测试,并记录仿真结果图(截图); 分析:根据以上数据得知: 1.对“与非门”当其余端子输入“逻辑1”,当输入端子A输入为“1”时,对应输出F为0;当输入端子A输入为“0”时,对应输出F为“1”。 2.对“或非门”当其余端子输入“逻辑0”,当输入端子B输入为“1”时,对应输出F为“0”;当输入端子B输入为“0”时,对应输出F为“1”。 3.对“异或门”当其余端子输入“逻辑0”,当输入端子C输入为“1”时,对应输出F为“0”;当输入端子C输入为“0”时,对应输出F为“1”。 从以上分析可知,“与非门”、“或非门”“异或门”可以实现反相器(非门)的功能 |
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