镀层厚度测试仪THICK 800A 智能型 电镀镀层厚度检测仪XRF

天瑞仪器

Skyray Instrument

智能型 THICK 800A 

性能优势

高端配置——采用高分辨率SDD探测器;分辨率高达140eV

上照式设计——实现微小不规则表面样品如弧形，拱形，凹槽，螺纹等异形的快、准、稳高效检测高精度自动化的X轴Y轴Z轴的联动装置实现对样品的精准对焦快速检测采用高度自动定位激光，可快速精准定位测试高度，以满足不同尺寸的镀层测试

多种准直孔可供选择——准直孔∶0.05*0.3mm;中0.1mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm定位精准——样品可快速精准定位

操作简易——全自动智能集成设计，让检测轻松完成

技术优势

仪器配置高

智能型Thick 800A采用的是业内最高端的SDD半导体电制冷探测器，分辨率可达140eV，可以很好的区分相邻元素谱峰。

部

以Au/Ni/Cu镀层为例，正比计数盒仪器谱图如图一，从谱图可

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以看出铜镍两元素的谱峰重叠严重，金的峰形与样品本底重叠;不利 0 7 6

图1

于元素准确分析。

图二是半导体SDD仪器测试Au/Ni/Cu的光谱图，从谱图可以看出铜镍金这三个元素的谱峰得到很明显的区分，有利于元素精准分析。

200

图2

聚焦光路设计留

Clliaor

智能型Thick 800A采用独特的光路交换装置，让X射线与摄像光

hute7

Dtietor.

处于同一垂直线，达到激光点与测试点一体，且X光高度聚焦;配合

Camera

FP软件达到对焦变焦功能，实现微小不规则样品的精准测试; 高集

Fods Laser

成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍，有效的减少弧度倾斜

Miror Bracket

放样带来的误差。