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键盘控制器软复位/通电测试。 可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。 05如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。 已确定软复位/通电;即将启动ROM。 DMA初如准备正在进行或者失灵。 06使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。 已启动ROM计算ROMBIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 07处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。 ROMBIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 . 08使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。 已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。 09EPROM检查总和且必须等于零才通过。 核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。 第一个64KRAM测试正在进行。 0A使视频接口作初始准备。 发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。 第一个64KRAM芯片或数据线失灵,移位。 0B测试8254通道0。 写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。 第一个64KRAM奇/偶逻辑失灵。 0C测试8254通道1。 键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。 第一个64KRAN的地址线故障。 0D1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。 2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。 3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。 已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。 第一个64KRAM的奇偶性失灵 0E测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。 初始化输入/输出端口地址。 0F测试扩展的CMOS。 已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。 . 10测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。 第一个64KRAM第0位故障。 18测试视频存储器,如果安装选用的视频BIOS通过,由可绕过。 第0通道计时器测试结束;即将开始更新存储器。 第一个64DKRAM第8位故障。 19测试第1通道的中断控制器(8259)屏蔽位。 已开始更新存储器,接着将完成存储器的更新。 第一个64DKRAM第9位故障。 1A测试第2通道的中断控制器(8259)屏蔽位。 正在触发存储器更新线路,即将检查15微秒通/断时间。 第一个64DKRAM第10位故障。 1B测试CMOS电池电平。 完成存储器更新时间30微秒测试;即将开始基本的64K存储器测试。 第一个64DKRAM第11位故障。 1C测试CMOS检查总和。 .第一个64DKRAM第12位故障。 1D调定CMOS配置。 .第一个64DKRAM第13位故障。 1E测定系统存储器的大小,并且把它和CMOS值比较。 .第一个64DKRAM第14位故障。 1F测试64K存储器至最高640K。 .第一个64DKRAM第15位故障。 20测量固定的8259中断位。 开始基本的64K存储器测试;即将测试地址线。 从属DMA寄存器测试正在进行或失灵。 21维持不可屏蔽中断(NMI)位(奇偶性或输入/输出通道的检查)。 通过地址线测试;即将触发奇偶性。 主DMA寄存器测试正在进行或失灵。 22测试8259的中断功能。 结束触发奇偶性;将开始串行数据读/写测试。 主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。 23测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。 基本的64K串行数据读/写测试正常;即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。 从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。 24测定1MB以上的扩展存储器。 矢量初始化之前的任何调节完成,即将开始中断矢量的初始准备。 设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。 25测试除头一个64K之后的所有存储器。 完成中断矢量初始准备;将为旋转式断续开始读出8042的输入/输出端口。 装入中断矢量正在进行或失灵。 26测试保护方式的例外情况。 读出8042的输入/输出端口;即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。 开启A20地址线;使之参入寻址。 27确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。 全1数据初始准备结束;接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。 键盘控制器测试正在进行或失灵。 28确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。 完成中断矢量之后的初始准备;即将调定单色方式。 CMOS电源故障/检查总和计算正在进行。 29.已调定单色方式,即将调定彩色方式。 CMOS配置有效性的检查正在进行。 2A使键盘控制器作初始准备。 已调定彩色方式,即将进行ROM测试前的触发奇偶性。 置空64K基本内存。 2B使磁碟驱动器和控制器作初始准备。 触发奇偶性结束;即将控制任选的视频ROM检查前所需的任何调节。 屏幕存储器测试正在进行或失灵。 2C检查串行端口,并使之作初始准备。 完成视频ROM控制之前的处理;即将查看任选的视频ROM并加以控制。 屏幕初始准备正在进行或失灵。 2D检测并行端口,并使之作初始准备。 已完成任选的视频ROM控制,即将进行视频ROM回复控制之后任何其他处理的控制。 屏幕回扫测试正在进行或失灵。 2E使硬磁盘驱动器和控制器作初始准备。 从视频ROM控制之后的处理复原;如果没有发现EGA/VGA就要进行显示器存储器读/写测试。 检测视频ROM正在进行。 2F检测数学协处理器,并使之作初始准备。 没发现EGA/VGA;即将开始显示器存储器读/写测试。 . 30建立基本内存和扩展内存。 通过显示器存储器读/写测试;即将进行扫描检查。 认为屏幕是可以工作的。 31检测从C800: 0至EFFF: 0的选用ROM,并使之作初始准备。 显示器存储器读/写测试或扫描检查失败,即将进行另一种显示器存储器读/写测试。 单色监视器是可以工作的。 32对主板上COM/LTP/FDD/声音设备等I/O芯片编程使之适合设置值。 通过另一种显示器存储器读/写测试;却将进行另一种显示器扫描检查。 彩色监视器(40列)是可以工作的。 33.视频显示器检查结束;将开始利用调节开关和实际插卡检验显示器的关型。 彩色监视器(80列)是可以工作的。 34.已检验显示器适配器;接着将调定显示方式。 计时器滴答声中断测试正在进行或失灵。 35.完成调定显示方式;即将检查BIOSROM的数据区。 停机测试正在进行或失灵。 36.已检查BIOSROM数据区;即将调定通电信息的游标。 门电路中A-20失灵。 37.识别通电信息的游标调定已完成;即将显示通电信息。 保护方式中的意外中断。 38.完成显示通电信息;即将读出新的游标位置。 RAM测试正在进行或者地址故障>FFFFH。 39.已读出保存游标位置,即将显示引用信息串。 . 3A.引用信息串显示结束;即将显示发现信息。 间隔计时器通道2测试或失灵。 3B用OPTI电路片(只是486)使辅助超高速缓冲存储器作初始准备。 已显示发现<ESC>信息;虚拟方式,存储器测试即将开始。 按日计算的日历时钟测试正在进行或失灵。 3C建立允许进入CMOS设置的标志。 .串行端口测试正在进行或失灵。 3D初始化键盘/PS2鼠标/PNP设备及总内存节点。 .并行端口测试正在进行或失灵。 3E尝试打开L2高速缓存。 .数学协处理器测试正在进行或失灵。 40.已开始准备虚拟方式的测试;即将从视频存储器来检验。 调整CPU速度,使之与外围时钟精确匹配。 41中断已打开,将初始化数据以便于0: 0检测内存变换(中断控制器或内存不良)从视频存储器检验之后复原;即将准备描述符表。 系统插件板选择失灵。 42显示窗口进入SETUP。 描述符表已准备好;即将进行虚拟方式作存储器测试。 扩展CMOSRAM故障。 43若是即插即用BIOS,则串口、并口初始化。 进入虚拟方式;即将为诊断方式实现中断。 . 44.已实现中断(如已接通诊断开关;即将使数据作初始准备以检查存储器在0: 0返转。 )BIOS中断进行初始化。 45初始化数学协处理器。 数据已作初始准备;即将检查存储器在0: 0返转以及找出系统存储器的规模。 . 46.测试存储器已返回;存储器大小计算完毕,即将写入页面来测试存储器。 检查只读存储器ROM版本。 47.即将在扩展的存储器试写页面;即将基本640K存储器写入页面。 . 48.已将基本存储器写入页面;即将确定1MB以上的存储器。 视频检查,CMOS重新配置。 49.找出1BM以下的存储器并检验;即将确定1MB以上的存储器。 . 4A.找出1MB以上的存储器并检验;即将检查BIOSROM数据区。 进行视频的初始化。 4B.BIOSROM数据区的检验结束,即将检查<ESC>和为软复位清除1MB以上的存储器。 . 4C.清除1MB以上的存储器(软复位)即将清除1MB以上的存储器.屏蔽视频BIOSROM。 . 4D已清除1MB以上的存储器(软复位);将保存存储器的大小。 . 4E若检测到有错误;在显示器上显示错误信息,并等待客户按<F1>键继续。 开始存储器的测试: (无软复位);即将显示第一个64K存储器的测试。 显示版权信息。 4F读写软、硬盘数据,进行DOS引导。 开始显示存储器的大小,正在测试存储器将使之更新;将进行串行和随机的存储器测试。 . 50将当前BIOS监时区内的CMOS值存到CMOS中。 完成1MB以下的存储器测试;即将高速存储器的大小以便再定位和掩蔽。 将CPU类型和速度送到屏幕。 51.测试1MB以上的存储器。 . 52所有ISA只读存储器ROM进行初始化,最终给PCI分配IRQ号等初始化工作。 已完成1MB以上的存储器测试;即将准备回到实址方式。 进入键盘检测。 53如果不是即插即用BIOS,则初始化串口、并口和设置时种值。 保存CPU寄存器和存储器的大小,将进入实址方式。 . 54.成功地开启实址方式;即将复原准备停机时保存的寄存器。 扫描“打击键” 55.寄存器已复原,将停用门电路A-20的地址线。 . 56.成功地停用A-20的地址线;即将检查BIOSROM数据区。 键盘测试结束。 57.BIOSROM数据区检查了一半;继续进行。 . 58.BIOSROM的数据区检查结束;将清除发现<ESC>信息。 非设置中断测试。 59.已清除<ESC>信息;信息已显示;即将开始DMA和中断控制器的测试。 . 5A..显示按“F2”键进行设置。 5B..测试基本内存地址。 5C..测试640K基本内存。 60设置硬盘引导扇区病毒保护功能。 通过DMA页面寄存器的测试;即将检验视频存储器。 测试扩展内存。 61显示系统配置表。 视频存储器检验结束;即将进行DMA#1基本寄存器的测试。 . 62开始用中断19H进行系统引导。 通过DMA#1基本寄存器的测试;即将进行DMA#2寄存器的测试。 测试扩展内存地址线。 63.通过DMA#2基本寄存器的测试;即将检查BIOSROM数据区。 . 64.BIOSROM数据区检查了一半,继续进行。 . 65.BIOSROM数据区检查结束;将把DMA装置1和2编程。 . 66.DMA装置1和2编程结束;即将使用59号中断控制器作初始准备。 Cache注册表进行优化配置。 67.8259初始准备已结束;即将开始键盘测试。 . 68..使外部Cache和CPU内部Cache都工作。 6A..测试并显示外部Cache值。 6C..显示被屏蔽内容。 6E..显示附属配置信息。 70..检测到的错误代码送到屏幕显示。 72..检测配置有否错误。 74..测试实时时钟。 76..扫查键盘错误。 7A..锁键盘。 7C..设置硬件中断矢量。 7E..测试有否安装数学处理器。 80.键盘测试开始,正在清除和检查有没有键卡住,即将使键盘复原。 关闭可编程输入/输出设备。 81.找出键盘复原的错误卡住的键;即将发出键盘控制端口的测试命令。 . 82.键盘控制器接口测试结束,即将写入命令字节和使循环缓冲器作初始准备。 检测和安装固定RS232接口(串口)。 83.已写入命令字节,已完成全局数据的初始准备;即将检查有没有键锁住。 . 84.已检查有没有锁住的键,即将检查存储器是否与CMOS失配。 检测和安装固定并行口。 85.已检查存储器的大小;即将显示软错误和口令或旁通安排。 . 86.已检查口令;即将进行旁通安排前的编程。 重新打开可编程I/O设备和检测固定I/O是否有冲突。 87.完成安排前的编程;将进行CMOS安排的编程。 . 88.从CMOS安排程序复原清除屏幕;即将进行后面的编程。 初始化BIOS数据区。 89.完成安排后的编程;即将显示通电屏幕信息。 . 8A.显示头一个屏幕信息。 进行扩展BIOS数据区初始化。 8B.显示了信息: 即将屏蔽主要和视频BIOS。 . 8C.成功地屏蔽主要和视频BIOS,将开始CMOS后的安排任选项的编程。 进行软驱控制器初始化。 8D.已经安排任选项编程,接着检查滑了鼠和进行初始准备。 . 8E.检测了滑鼠以及完成初始准备;即将把硬、软磁盘复位。 . 8F.软磁盘已检查,该磁碟将作初始准备,随后配备软磁碟。 . 90.软磁碟配置结束;将测试硬磁碟的存在。 硬盘控制器进行初始化。 91.硬磁碟存在测试结束;随后配置硬磁碟。 局部总线硬盘控制器初始化。 92.硬磁碟配置完成;即将检查BIOSROM的数据区。 跳转到用户路径2。 93.BIOSROM的数据区已检查一半;继续进行。 . 94.BIOSROM的数据区检查完毕,即调定基本和扩展存储器的大小。 关闭A-20地址线。 95.因应滑鼠和硬磁碟47型支持而调节好存储器的大小;即将检验显示存储器。 . 96.检验显示存储器后复原;即将进行C800: 0任选ROM控制之前的初始准备。 “ES段”注册表清除。 97.C800: 0任选ROM控制之前的任何初始准备结束,接着进行任选ROM的检查及控制。 . 98.任选ROM的控制完成;即将进行任选ROM回复控制之后所需的任何处理。 查找ROM选择。 99.任选ROM测试之后所需的任何初始准备结束;即将建立计时器的数据区或打印机基本地址。 . 9A.调定计时器和打印机基本地址后的返回操作;即调定RS-232基本地址。 屏蔽ROM选择。 9B.在RS-232基本地址之后返回;即将进行协处理器测试之初始准备。 . 9C.协处理器测试之前所需初始准备结束;接着使协处理器作初始准备。 建立电源节能管理。 9D.协处理器作好初始准备,即将进行协处理器测试之后的任何初始准备。 . 9E.完成协处理器之后的初始准备,将检查扩展键盘,键盘识别符,以及数字锁定。 开放硬件中断。 9F.已检查扩展键盘,调定识别标志,数字锁接通或断开,将发出键盘识别命令。 . A0.发出键盘识别命令;即将使键盘识别标志复原。 设置时间和日期。 A1.键盘识别标志复原;接着进行高速缓冲存储器的测试。 . A2.高速缓冲存储器测试结束;即将显示任何软错误。 检查键盘锁。 A3.软错误显示完毕;即将调定键盘打击的速率。 . A4.调好键盘的打击速率,即将制订存储器的等待状态。 键盘重复输入速率的初始化。 A5.存储器等候状态制定完毕;接着将清除屏幕。 . A6.屏幕已清除;即将启动奇偶性和不可屏蔽中断。 . A7.已启用不可屏蔽中断和奇偶性;即将进行控制任选的ROM在E000: 0之所需的任何初始准备。 . A8.控制ROM在E000: 0之前的初始准备结束,接着将控制E000: 0之后所需的任何初始准备。 清除“F2”键提示。 A9.从控制E000: 0ROM返回,即将进行控制E000: 0任选ROM之后所需的任何初始准备。 . AA.在E000: 0控制任选ROM之后的初始准备结束;即将显示系统的配置。 扫描“F2”键打击。 AC..进入设置. AE..清除通电自检标志。 B0..检查非关键性错误。 B2..通电自检完成准备进入操作系统引导。 B4..蜂鸣器响一声。 B6..检测密码设置(可选)。 B8..清除全部描述表。 BC..清除校验检查值。 BE程序缺省值进入控制芯片,符合可调制二进制缺省值表。 .清除屏幕(可选)。 BF测试CMOS建立值。 .检测病毒,提示做资料备份。 C0初始化高速缓存。 .用中断19试引导。 C1内存自检。 .查找引导扇区中的“55”“AA”标记。 C3第一个256K内存测试。 .. C5从ROM内复制BIOS进行快速自检。 .. C6高速缓存自检。 .. CA检测Micronies超速缓冲存储器(如果存在),并使之作初始准备。 .. CC关断不可屏蔽中断处理器。 .. EE处理器意料不到的例外情况。 .. FF给予INI19引导装入程序的控制,主板OK。 |
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