【结构表征】场发射透射电子显微镜

名称：场发射透射电子显微镜Tecnai G2 F20

制造商：FEI公司

设备购置时间：2008.6.2

主要技术指标：

1. 点分辨率：0.24nm；线分辨率：0.14nm

2. 物镜球差系数：1.2mm；

3. 物镜色差系数：1.2mm；

4. 放大倍数：25～100万倍；

5. 最大倾角：±40°。

常用附件：能谱仪，HAADF探头，CCD相机

主要应用领域：钢铁材料磁性样品微观组织检测

主要用途：Tecnai G2 F20 S-TWIN 是由FEI公司新开发的真正多功能、多用户环境的200KV场发射透射电子显微镜。它将各种透射电镜技术（包括TEM、SAD、STEM、EDX频谱成像等）方便灵活地有机组合，形成强大的分析功能。由于采用高发射电流Schotty场发射电子枪，拍摄到的图像具有亮度高，稳定性好的特点。应用于材料微观结构的观察和分析：形貌像分析；电子衍射图像分析；HRTEM 高分辨像；扫描透射（STEM）分析；EDX能谱分析。

设备负责人：   张维娜

联 系 方式：   Tel：13604028597   024-83686411

E-mail：

放 置 地 点：RAL 101

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透射电子显微镜简明操作规程

一、开机

1．检查室温(16～22℃)，冷却水水温(