红外软件Omnic常用操作介绍

理论上，基线是由谱图上那些没有明显吸收的部分构成，图上这些部分的吸收是零(或100%透过率)；实际上，基线可能发生漂移、倾斜或弯曲。

造成基线不平直的可能原因有:

（1）样品片太厚或样品与背景的透过相差太大；

（2）压片前没有将样品与KBr仔细研磨，大粒子(大于5微米)引起散射。这导致高频的吸收增加，表现为朝高频方向向上的斜坡。

（3）ATR谱图中的吸收值可能朝低频方向向上倾斜，对样品的穿透深度增加，反射损失的能量增多。

（4）如果参考谱图与样品谱图的基线明显不同，则差谱后整体基线可能不接近零吸收。

自动基线校正适用于漂移/倾斜的图谱（漂移：数据吸光度不是从0开始的），校正的时候需要先数据转换成吸光度。

操作步骤：

（1）选择要校正基线的谱图；

（2）选择(用区间工具)或显示明用取景器)您想进行基线校正的谱图区域；

（3）在“数据处理”菜单中选择“自动基线校正”命令。

6平滑

“平滑”操作存在删除数据点的情况，被平滑程度取决于平滑过程中使用的点数。

点数设置：可以是5到25中任何1个奇数，点数越多平滑程度越高。平滑会使数据看上去信噪比很高，但是也有可能使数据丢失一些细节峰。所以要慎用平滑，如果想获得一张信噪比高的光谱可以通过增加扫描次数来实现。

操作步骤：

“数据处理”-“平滑”-选择平滑点数。

7纵坐标归一化

“纵坐标归一化”命令可将所选择谱图的Y轴标尺转换成一个标准的标尺，其数据点的Y值范围从最低点的零吸收单位到最高峰的1个吸收单位(对于吸收谱谱图)，或从10%到100%透过率(对于透射谱谱图)。但谱图经归一化后，不能用于定量分析。

归一化就是把光谱的所有强度值都除以光谱中的最高强度值，这样光谱最强值为1，其他波长的谱线强度均低于1。

在透射实验中，较厚的材料样品比较薄的样品吸收更多的红外能量，结果表现为更高的谱峰。归一化谱图可以补偿光程长造成的影响，并且使二者的谱峰可以进行比较。

操作步骤:

1.选择要归一化的谱图；

2.在“数据处理”菜单中选择“纵坐标归一化”命令。

8差谱

“差谱”主要应用于混合体系谱图解，例如溶剂，多组分，杂质谱图间的比较。

反应过程监测。例如：化学反应或固化等的谱图时，谱图会反映出所发生的化学变化。

从谱图系列中差减去“零时刻”的谱图（在反应开始前采集的谱图），所得的差谱将有助于了解所发生的变化。

差谱结果=混合组分谱图-单组分谱图X系数

操作步骤:

（1）选择要作差谱的两张谱图；

（2）在“数据处理”菜单中选择“差谱”；

（3）若对差谱结果不满意，可改变差减系数；

（4）若对差谱感到满意，可以用它来代替样品谱图或者将它加到一个谱图窗口中去。

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