X射线镀层测厚仪XRF | 您所在的位置:网站首页 › XRF-2000L韩国微先锋X射线膜厚仪 › X射线镀层测厚仪XRF |
X射线镀层测厚仪XRF-2020L膜厚仪 系列型号: XRF-2020L XRF-2020H 应用: 测量各类五金,电子连接器端子半导体等电镀层厚度。 可测金,镍,铜,锌,锡,银,铬,铑,铂,锌镍合金等镀层。 可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。 适应电镀生产企业,产品来料检测半导体五金电镀等相关行业。 特点: 全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量 仪器全系均为全自动台,自动雷射对焦! 多点自动测量 可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换 韩国MicroPioneer XRF-2020测厚仪功能应用: 检测电子电镀,五金电镀,端子连接器,线路板,半导体等膜厚 可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限底材。 单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等 双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等 多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层: 铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等 韩国XRF-2020镀层测厚仪 韩国MicroP XRF-2020膜厚仪 功能应用: 检测电子电镀,五金电镀,PCB板,LED支架半导体连接器等电镀层厚度。 测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等 可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料 电镀测厚仪深圳韩国XRF-2020膜厚仪 可测单镀层,双多镀层,多镀层及合金镀层 镀银测量范围0.1-50um 镀镍测量范围0.5-30um 镀铜测量范围0.5-30um 镀锡测量范围0.5-50um 镀金测量范围0.02-6um 镀锌测量范围1-30um 锌镍合金测量范围1-25um 镀铬测量范围0.5-25um 仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量 多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm 可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换 XRF-2020膜厚测试仪电镀测厚仪 微先锋Micropioneer XRF-2000 Micro P XRF-2020 韩国XRF-2000L,X-RAY膜厚测量仪,电镀层测厚仪 X射线镀层测厚仪,X-RAY镀层膜厚测量仪 电镀层厚度测试仪,X射线膜厚测厚仪,金属镀层测厚仪 韩国微先锋XRF-2020测厚仪H型L型膜厚仪规格型号区别 XRF-2020L型: 测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg XRF-2020H型: 测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg Micropioneer XRF-2000L韩国测厚仪膜厚仪型号已更新为XRF-2020系列 旧款型号XRF-2000L已不再生产 X射线镀层测厚仪XRF-2020L膜厚仪 |
CopyRight 2018-2019 实验室设备网 版权所有 |