53100A相位噪声分析仪可以测量高性能RF信号源的幅度、相位和频率稳定性。测试频率范围为1MHz到200MHz。53100A可以告诉您关于您被测设备的任何稳定性特性，时间刻度范围可以从飞秒到天。无论是单独使用还是集成到自动化测试系统中，小巧的外形和业界领先的测量速度使得51300A可以适用于大多数应用。继承并扩展了3120A和51XXA系列仪器的优点，53100A可以以更低的成本来快速精确地测量SSB单边带相位噪声和ADEV阿伦反差。得益于改进地设计和制造工艺进步，53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。

主要特点：

信号输入和参考输入，频率范围1MHz到200MHz

没有相位锁定和不需要测量校准

单或双参考振荡器输入允许互相关测量

TSC 51XXA命令和数据流仿真功能减少了重写现有测试脚本的负担

直观的图形界面使用户能够快速开始测量

亚皮秒精度相位和频率差的实时带状图

绝对频率计数精度每秒钟13位以上，最高17位

ADEV典型值（1秒）

可以测量MDEV、HDEV、TDEV

相位噪声和幅度噪声偏移范围为0.001Hz到1MHz，水平典型小于-175dBc/Hz（10MHz载波）

时间抖动、残余FM调频和SSB载波/噪声比率

在Windows系统上使用高性能的基于电脑的DSP技术，所有这些测量都可以同时进行。您可以查看、保存、比较、打印和导出各种格式数据，包括TSC 51XXA兼容的。测量精度取决于用户提供的外部参考源，参考源频率为1MHz到200MHz，仪器本身不需要校准。

主要技术指标：（25℃环境）

性能

频率范围

1到200MHz

ADEV

7E-15 (1秒)  典型值5E-15

2E-16(1000秒) 典型值1E-16

相位噪声规格

偏移频率范围：0.001Hz到1MHz

系统噪声平面

偏移

5MHz载波

100MHz载波

1Hz

-135

-120

10Hz

-145

-130

100Hz

-155

-145

1kHz

-165

-160

10kHz

-170

-170

>100kHz

-170

-170

Spurious (5到100MHz)

-100

-100

电气特性

输入信号电平：-5到+15dBm

输入阻抗：50欧姆

机械和环境规格

尺寸：13.5×8.5×3.6（344×215×91毫米）

功率：小于20瓦（90到264VAC）

操作温度：+15℃到35℃

存储温度：-20℃到50℃

重量：3.2kg（7英镑）

平均故障间隔时间：90000小时（在25℃）

符合：RoHS，CE，FCC

包含附件

USB2.0线缆，A(公)/B(公)

电源线

2个N(公)/BNC(母)同轴适配器

5个SMA(公)/SMA(公)同轴跳帽，1英寸（25.4毫米）

前面板

N(公)RF连接头：2个，连接被测信号和参考信号

SMA(母)RF连接头：4个，多通道扩展

LED：仪器状态指示

后面板

USB-B连接：电脑连接

SMA(母)RF连接头：3个，保留以备进一步使用

直流输入插座(2.1毫米)：使用外部15V电源供电时用

订货信息：

编号

描述

090-53100-000

53100A相位噪声测试仪

软件：53100A软件随产品一起邮寄。在软件里可以设置各种测量配置/速度，更改显示设置，导入导出数据，运行脚本，设置通过/失败掩膜曲线等等。