尼康推出具有更高X射线通量和放大倍率的微焦点CT系统，可大幅提高采集速度和成像质量。

    尼康推出了一种工业X射线CT（计算机断层扫描）解决方案，可以极大提高大型部件（甚至是高密度部件）的检测水平。其功能整体性是其他品牌产品难以比拟的，它结合了本公司特有的旋转靶，能够承受来自灯丝的高度聚焦电子束焦点。除此之外，该最新创新成果还结合了软件“Offset.CT”，并具备改变发射源和平板探测器之间距离的能力。该软件包由分析结果的智能软件完成。

    X射线原理表明，只要入射到靶上的聚焦电子束焦点大小不增加，则更高通量更具优势，因为更高通量可以提高分辨率，高密度检测对象的细节更清晰，同时也可以缩短扫描时间。尼康可以通过“Rotating.Target 2.0”提高通量，同时保持较小的焦点尺寸。它通过提高散热效率来使钨表面温度保持在较低范围，避免了在高入射功率和反射功率条件下的熔化。

    在常规的CT系统中，扫描部件以进行无损检测时，会将对象完全置于锥形束内，然后360度环绕被测对象，使X射线光子可以从各个角度照射到整个横截面。 为了容纳更大的物体，必须将其放置在远离射线源和靠近探测器的位置，这样会导致几何放大率减小，图像分辨率因此降低。

    拍出的射线照片和由此得出的断层扫描图像不够清晰。客户当然不希望这样，因为低成像质量会导致故障分析时被测对象内部缺陷（空隙和裂缝）难以觉察，也会使检查或测量部件或组件内部的特征变得更加困难。

    尼康最新的X射线CT解决方案中并入的两大技术可以解决此问题，原理是通过增加部件在检测器上的放大倍率来提高所得图像的分辨率。

    首先，Offset.CT支持将部件放置在射线源到检测器中心线的一侧，以使被测对象有近一半位于锥束外部，通常可以将视场扩大70％。因此，对于恰好能放入锥形束,但会过于靠近检测器的部件,可以将其放置在离射线源更近的位置，以将放大倍率提高多达三倍。

    或者也可以放在相同的CT中，在保持部件位置不变，放大倍率不变，不需要额外占用实验室或工厂的更多空间的情况下。即使被测对象宽度超过检测器，也可以对其进行整体检测，而不是只能检测某个特定部位。

    在最新版本的制造商的Inspect-X软件中，使用特殊插值和加权算法从Offset.CT数据重构完整部件的高清体素模型。除XT V系列外，所有尼康180 kV、225 kV、320 kV和450 kV X射线CT系统都具备此功能。由于上述机器主要用于检测小型、低密度电子器件，因此其用途有限。

    第二个技术特点是缩短射线源和探测器之间的距离（焦点到成像仪的距离，简称FID），它还具有投射更大图像和提高放大倍率和功率的效果。尼康CT柜可以通过马达移动探测器来改变FID。X射线强度随着距离的增加而下降，而缩短FID会使通量以缩短距离的平方增加，例如将距离减半会使功率增加四倍。如前所述，较大的图像和较高的通量都有助于提高射线图像的分辨率和质量（信噪比）和/或提高扫描速度。