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The trend of structured light-induced force microscopy: a review
Jinwei Zeng(曾进炜), Yajuan Dong, Jinrun Zhang and Jian Wang(王健) 通讯作者: 王健,华中科技大学研究背景: 传统的光学显微镜通常仅能观察样品的外观,难以直接探测样品的内在电磁性质。因此,纳米样品的电磁性质难探测、难分析、难利用,成为了制约未来超集成芯片技术与精密生物探测技术发展的重要瓶颈。为了克服这个瓶颈,科学家们研究了新的照明光源(结构光场光源)与探测技术(近场光力探测技术)。作者将这种技术命名为结构光诱导力显微镜(Structured light-induced force microscopy,SLiFM),期望该技术可以实现高分辨率、高信噪比的电磁表征,从而揭示纳米样品的多种高维度复杂电磁信息。 研究内容: 作者回顾了近年来科学家们对结构光场、结构光场与纳米结构相互作用、以及近场光力电磁表征方面的进展,这些研究构筑了SLiFM系统的重要基础。 首先,如图1所示,具有非均匀幅度、相位、偏振空间分布的结构光场是SLiFM系统的特征光源。与传统光源不同,结构光场可拥有轨道角动量、矢量偏振等多维光子信息,可探索物质更为复杂的电磁性质。 |
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