Empyrean RCExplorer

　　 随着IC工艺发展，寄生效应对IC设计和Signoff签核都非常关键。寄生参数提取工具根据工艺参数设置对版图中的器件、单元和互连线的寄生电阻电容等参数进行计算，从而提取出包含寄生参数的电路网表，用于电路的各项性能分析和仿真。此外，可靠性相关的EM/IR问题依赖于寄生参数提取工具。同时，在FinFET工艺等更先进工艺条件下如何准确的评估寄生效应，这对寄生参数提取工具提出了新的挑战。 　　

　　 华大九天寄生参数提取工具Empyrean RCExplorer®提供了高效准确的Signoff阶段的寄生参数提取方案。工具支持全芯片晶体管级和单元级寄生参数提取，同时具备三维高精度提取和准三维快速提取两种模式。工具内置高精度的场求解器，一方面支撑三维高精度提取模式，另一方面为准三维快速提取模式创建高精度寄生模型，满足准三维快速提取模式的精度要求。工具通过计算高精度的寄生参数，可以帮助用户减少整体设计循环时间，并提高复杂电路的设计质量。

　　 Empyrean RCExplorer®可集成于全定制设计平台Empyrean Aether®，并提供用于寄生参数反标和分析的Extracted View数据，更好地帮助用户进行前端和后端设计的调试和分析。同时，Empyrean RCExplorer®也紧密集成于模拟电路EM/IR分析工具Empyrean Patron®，提供可靠性分析所需要的后端寄生数据，保证了设计人员进行IR-drop/EM/Thermal等分析验证。