国际电工委员会 (IEC) 发布的 IEC 60068-2-1 标准涉及冷测试，可应用于非散热和散热样品。 对于本标准上次更新中的非散热样品，测试 Ab 和 Ad 与之前的版本没有显着差异。 测试 Ae 是为主要要求它在整个测试期间（包括调节期）可操作的测试设备而添加的。

冷试验的目的仅限于确定组件、设备或其他物体在低温下使用、运输或储存的能力。 本标准涵盖的冷测试不能确保样品在要评估的温度变化期间承受或操作的能力。 在这种情况下，将应用 IEC 60068-2-14 标准。

冷试一般分为：

IEC 60068-2-1 中给出的程序通常是为在测试程序执行期间达到温度稳定性的样品设计的。 温度室是根据 IEC 60068-3-5 和 IEC 60068-3-7 标准建造和验证的。 IEC 60068-3-1 标准和 IEC 60068-1 标准中的一般指南提供了关于干热和冷测试的进一步指南。

该标准的最新更新涉及适用于非散热和非散热样品的冷测试。 在本标准的框架内，仅当样品表面的最热点（在自由空气条件下测量，即低空气速度循环）比周围大气的环境温度高出 5K 以上时，才被认为是热辐射器.

总之，冷试验的目的是确定部件、设备或其他物体在低温下使用、运输或储存的能力。

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