MSA测量系统重复性与再现性GR&R分析，你会了吗？

•　测量仪器（设备）的精度（分辨率）：需比被测量体要求精度高一个数量级，即如要求测量精度是0.001，测量仪器的精度要求须是0.0001。

2.预实施

•　分析员要事先对所有零件进行编号并标识测量点，对于给定特征有多个测量点时，为避免零件内部偏差的影响，要确定其中一个作为测量点。

•　所选用的检查员一定是在测量仪器（设备）使用方面经过培训的熟练的人员。

•　如果可能的话，每次试验前应对测量仪器（设备）进行校准。

实施

•　第一名检查员以随机方式对所给的零件进行第一次测量，将测量结果填入表格第二列。然后第二名检查员同样以随机方式对这些零件进行第一次测量，将测量结果填入表格第六列。第三名检查员做法相同，将测量结果填入表格第十列。

•　重复上述步骤，进行第二次、第三次测量，并将测量结果填入其余空白表格。

3.计算出设备变异EV、人员差异以及 GR&R等百分比

计算公式：

XAbar=(XA11+ XA12 +…+ XA3A)/30

XBbar=(XB11+ XB12 +…+ XB3A)/30

XCbar=(XC11+ XC12 +…+ XC3A)/30

Xbardiff=MAX(XAbar, XBbar, XCbar )-MIN (XAbar, XBbar, XCbar )

RAbar=(RA1 + RA2 + …+RAA )/10

RBbar=(RB1 + RB2 + …+RBB )/10

RCbar=(RC1 + RC2 + …+RCC )/10

Rbar=(RAbar + RBbar + RCbar ) /3

UCLr=Rbar*D4

若任何单独的R值大于UCLr，就应重新检讨试验过程，重新试验并更正不正确的地方，或除掉不合适的数据，利用新的数据重新进行计算R值。D4值按下表选取。

可重复性——测量仪器（设备）变异（ EV）

EV=Rbar*K1

再现性——评价者变异（AV）

AV=SQRT[(Xbardiff*K2)2-(EV 2/nr)

可重复性&再现性（R&R）

R&R= SQRT（EV2+AV2）基于公差方式的的分析结果：

%EV=（EV/TOL）*100%

%AV=（AV/TOL） *100%

%R&R=SQRT（ %EV2+ %AV2） *100%

=（ R&R/TOL） *100%

其中：TOL=USL-LSL

其计算公式如下简图所示:

4.判异标准

•如果GR&R小于所测零件公差的10%，则此系统无问题。

•如果GR&R大于所测零件公差的10%而小于20%，那么此系统是可以接受的。

•如果GR&R大于所测零件公差的20%而小于30%，则接受的依据是数据测量系统的重要程度和改善所花费的商业成本。

•如果GR&R大于所测零件公差的30%，那么此测量系统不能接受，并且需要进行改善。

5.处置方式

%EV，%AV分别表明了测量仪器（设备）变异、评价人差异在总变异中所占比例，可据此把握现有测量系统中所存主要问题，并采取相应的措施。

1)当EV ＞ AV,即重复性:EV(设备变异) ＞ 再现性:AV(人员变异)时:

•量具需要加以保养；

•量具需要重新设计，以提升适切性；

•量具的夹紧或零件定位的方式需要改进；

•存在过大的零件变异。

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END

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文章来源

测量俱乐部

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