北京邮电大学22级信通院 实验 共射放大电路频率特性、负反馈测试仿真 所有仿真、测试数据

C4的作用

共射放大电路中，集电极和基极之间的电容通常被称为耦合电容。它的主要作用是将信号从输入端（基极）传递到输出端（集电极）。

具体来说，当输入信号进入基极时，耦合电容将信号传递到晶体管的基极。晶体管的放大作用将信号放大，并通过输出电路输出到集电极。在这个过程中，耦合电容阻止直流信号通过它，从而保证直流电压不影响放大器的线性度。

耦合电容的值会影响放大器的频率特性。较大的耦合电容可以将低频信号传递到集电极，但会阻止高频信号通过，导致高频响应下降。相反，较小的耦合电容可以提高高频响应，但会阻止低频信号通过，导致低频响应下降。

因此，选择合适的耦合电容是在设计共射放大电路时需要考虑的重要因素之一。通常需要在权衡低频响应和高频响应之间进行选择，以满足特定的设计需求。

当C4=0.01uF，比较大的时候：

下限截止频率30左右 上限截止频率22左右

当C4=100pF 较小时

下限截止频率32左右 上限截止频率1.6左右

C4大

下限截止频率30左右 上限截止频率22k左右

C4小

下限截止频率32左右 上限截止频率1.6M左右

C4的大小会影响电路的频率特性，C4小的时候会使电路的低频特性下降，但会大幅提高电路的高频特性

深度负反馈：

C4小

增益大幅下降了

下限截止频率4.5左右 上限截止频率1.9M左右

C4大

下限截止频率4.5左右 上限截止频率20k左右

C4小

下限截止频率32左右 上限截止频率1.6M左右

C4大

下限截止频率30左右 上限截止频率22k左右

深度负反馈

C4小

下限截止频率4.5左右 上限截止频率1.9M左右

C4大

下限截止频率4.5左右 上限截止频率20k左右

进行实物连接的时候101小红片电容是100pF  103小红片是0.01uF

黄色的是0.1uF

实物图：

AD2测试图：

体会：

频率特性的影响：

通过实验，我们可以观察到耦合电容大小对共射放大电路频率特性的影响。较大的耦合电容可以提高低频响应，但会导致高频响应下降。相反，较小的耦合电容可以提高高频响应，但会导致低频响应下降。通过实验数据的对比，我们可以更加深入地理解电路特性与电路参数之间的关系。

深度负反馈的作用：

在实验中，我们可以观察到深度负反馈对共射放大电路的放大倍数和频率响应的影响。深度负反馈可以降低电路的放大倍数，同时提高电路的稳定性和线性度。通过实验，我们可以更加深入地理解负反馈的作用原理，并探讨深度负反馈与电路性能之间的权衡关系。

实验误差的影响：

在实验过程中，我们需要考虑实验误差对实验结果的影响。实验误差可能来自于测量仪器的精度、电路元件的参数漂移等因素。我们需要注意这些误差，并尝试通过实验重复和数据分析来减少误差的影响。

实验设计的重要性：

在进行实验前，我们需要进行实验设计，包括电路参数的选择、测试方法的确定等。实验设计的合理性和准确性将直接影响实验结果的可靠性和有效性。因此，我们需要认真考虑实验设计，并在实验过程中根据需要进行调整和优化。

总之，通过实验可以更加深入地理解共射放大电路的特性和参数之间的关系，同时也可以提高实验技能和实验设计能力。在实验过程中，我们需要注意实验结果的可靠性和准确性，并尝试解释实验数据与理论模型之间的差异，从而更好地理解电路特性与电路参数之间的关系。

体会：

频率特性的影响：

通过实验，我们可以观察到耦合电容大小对共射放大电路频率特性的影响。较大的耦合电容可以提高低频响应，但会导致高频响应下降。相反，较小的耦合电容可以提高高频响应，但会导致低频响应下降。通过实验数据的对比，我们可以更加深入地理解电路特性与电路参数之间的关系。

深度负反馈的作用：

在实验中，我们可以观察到深度负反馈对共射放大电路的放大倍数和频率响应的影响。深度负反馈可以降低电路的放大倍数，同时提高电路的稳定性和线性度。通过实验，我们可以更加深入地理解负反馈的作用原理，并探讨深度负反馈与电路性能之间的权衡关系。

实验误差的影响：

在实验过程中，我们需要考虑实验误差对实验结果的影响。实验误差可能来自于测量仪器的精度、电路元件的参数漂移等因素。我们需要注意这些误差，并尝试通过实验重复和数据分析来减少误差的影响。

实验设计的重要性：

在进行实验前，我们需要进行实验设计，包括电路参数的选择、测试方法的确定等。实验设计的合理性和准确性将直接影响实验结果的可靠性和有效性。因此，我们需要认真考虑实验设计，并在实验过程中根据需要进行调整和优化。

总之，通过实验可以更加深入地理解共射放大电路的特性和参数之间的关系，同时也可以提高实验技能和实验设计能力。在实验过程中，我们需要注意实验结果的可靠性和准确性，并尝试解释实验数据与理论模型之间的差异，从而更好地理解电路特性与电路参数之间的关系。