TEM的mapping是做什么用的？

TEM的mapping是做什么用的？今天铄思百检测小编带大家详细了解一下吧

透射电子显微镇(Transmissin Electron Microscope,简称TEM)可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。而TEM的mappin是可以直观的显示出来各元素的分布情况。

TEM的mapping是做什么用的？

TEM的mapping就是扫描每个点，然后把每个点得到的能谱图按特定的元素峰画图，得到位置和这个元素峰的强度的关系，在面扫模式下，EDS通过在样品表面选择一个面进行扫描，获取整个区域的元素分布信息。面扫模式广泛用于材料的成分分析、相区分析和颗粒大小分布等应用。

图中每一种元素都由不同的颜色代表，它在所分析区域内的分布就非常直观。

TEM的mapping是做什么用的？

TEM的mapping也叫TEM面扫，TEM的面扫适合于全面了解大面积区域的元素分布情况。如果你关注的是整个样品表面大区域的化学成分分布，或者需要了解材料中不同区域的元素组成情况，面扫是最合适的选择。

通过面扫模式，可以提供大面积区域的元素分布信息，提供全面的观察。比如：关注薄膜或者涂层样品每一层的元素分布情况：

焊接样品界面处元素分布：

在铄思百检测做TEM mapping测试对样品有以下几点要求:

(1）粉末、液体样品均可，需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样

(2)mapping与样品厚度、样品对于电子束是否敏感关系较大

1. 样品厚度太大，mapping扫不出信号，一般300-30nm比较好；

2. 样品是有机物（不建议做MAPPING，做高分辨也不是很合适，容易被电子束打坏），扫久了会积碳，会拍不了；

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以上就是铄思百检测平台对"TEM的mapping是做什么用的"的详细介绍，如有测试需求，可以和铄思百检测联系，我们会给与您最准确的数据和最好的服务体验，希望可以在大家的科研路上有所帮助。

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