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电源树设计

2024-05-29 11:55| 来源: 网络整理| 查看: 265

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所在网址:https://mp.weixin.qq.com/s/DhRLHubdcm2cT8RFJe9yLw中大功率的ACDC电源,通常都会采用有源功率因数校正PFC电路来提高其功率因数,以减少对电网的干扰。在PFC电路中,常用的结构是BOOST电路,在实际的使用中,通常会加一个旁路二级管D2,如图1所示。旁路二级管D2的作用,不同的资料,不同的工程师,都有不同的解释,下面逐一分析说明。1、减少PFC的二极管D1的浪涌电流,因为D1是快速恢复二极管,抗浪涌电流的能力比较差。这种解释似乎有一点道理,D1是快速恢复二极管,承受浪涌电流的能力较弱,D2是普通的二极管,承受浪涌电流的能力很强。但在实际应用中,如果不加旁路二级管D2,D1也很少因为浪涌电流发生损坏。因为输出二极管D1和PFC电感串联,PFC电感较大,电感固有的特性就是其电流不能突变,PFC电感对输入的浪涌电流具有限流作用。因此,旁路二级管D2的最主要作用不是为了保护输出二极管D1。2、提高系统通过雷击测试的能力。在实际的应用中,会经常发现:相对而言,如果不加旁路二级管D2,系统不容易通过雷击测试,那么,这说明,加旁路二级管D2,的确有提高系统通过雷击测试的作用。系统在雷击测试的过程中,产生的能量通过浪涌电流的形式,经过旁路二级管D2,存储到大的输出电容。如果没有旁路二级管D2,那么这些浪涌电流就要流过PFC电感,从而有可能导致PFC电感饱和。PFC电感饱和时,功率MOSFET开通,特别是在输入正弦波的值峰点附近,就会产生非常大的峰值电流,因为控制IC的电流检测通常有一定的延时,PFC电感饱和时,产生的di/dt非常大,即使是电流检测的延时时间非常小,也会导致非常大的峰值电流,导致功率MOSFET因为过流而损坏。3、减少开机瞬间PFC电感和功率MOSFET的峰值电流,防止PFC电感饱和,损坏功率MOSFET。这种解释的理由是:在开机的瞬间,输出大电容的电压尚未建立,由于要对大电容充电,通过PFC电感的电流相对比较大,在电源开关接通的瞬间,特别是在输入正弦波的峰值附近开通,在对输出大电容充电过程中PFC电感有可能会出现饱和,如果此时PFC电路工作,流过功率MOSFET的电流非常大,从而损坏功率MOSFET。增加旁路二级管D2后,旁路二级管D2对输出大电容充电,输出电压建立的比较早,PFC电感能够很快的进行去磁工作,就可以减小流过PFC电感的电流,防止PFC电感饱和,降低功率MOSFET的峰值电流,避免损坏功率MOSFET。这种解释的理由并不完全有道理:增加旁路二极管D2,的确可以减小流过PFC电感和功率MOSFET的峰值电流,但是,如果没有旁路二极管D2,功率MOSFET开始工作时,即使是在输入正弦波的峰值附近开通功率MOSFET,由于控制IC都具有软起动功能,功率MOSFET的占空比一开始不是工作在最大的状态,而是从最小值慢慢的增加, PFC的过电流保护电路OCP也限制功率MOSFET工作的最大峰值电流。软起动通常在输出电压正常后才结束,输出电压在软起动时间没有结束的时候,已经高于输入电压,在PFC电感和功率MOSFET达到系统设定的最大工作电流之前,PFC电感已经进入到去磁工作,PFC电感很难进入饱和或进入深度的饱和。只要PFC电感的电流不走飞(饱和)或不深度走飞(深度饱和),那么,功率MOSFET的工作就是安全的。那么,原因到底是什么呢?实际应用发现,不加旁路二级管,如果功率MOSFET发生失效,那么,发生失效的条件通常是:输出满负载,系统进行老化测试、输入掉电测试以及输入AC电源插拔的过程中。在上述条件下,输入电压瞬态的降到较低值或0V,由于输出满载,PFC输出大电容的电压VBUS迅速降低到非常低的值,PFC控制IC的VCC的电容大,VCC的电流小,因此,VCC的掉电速度远远小于VBUS的掉电速度,VCC的掉电速度慢,只要VCC高于PFC控制IC的VCC的UVLO,那么PFC控制IC仍然在工作。

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