芯片资深IC设计工程师面经系列（六）DFT设计

DFT的全称是 Design For Test，每个芯片必不可少，虽然一般会配备专业的DFT人员，对于前端工程师也需要配合DFT工程师进行DFT设计。DFT测试可分为以下几种

1.边界扫描测试：Boundary Scan Test: 测试目标是 IO-PAD，利用 JTAG 接口互连以方便 测试。（jtag 接口，实现不同芯片之间的互连。这样可以形成整个系统的可测试性设计）

2.内建自测试 BIST:（模拟 IP 的关键功能，可以开发 BIST 设计。一般情况，BIST 造成系 统复杂度大大增加。memory IP 一般自带 BIST，简称 MBIST）

3.Scan test 扫描测试（ATPG）:主要包括管脚scan_clk，scan_rst，scan_mode，sin，so等信号。与边界扫描测试的区别，是内部移位寄存器实现的测试数据输入输出。测试目标是 std-logic，即标准单元库。内部的触发器，全部要使用带 SCAN 功能的触发器类型。

4.全速测试 at-speed-test（其实是属于扫描测试的一种。只不过测试时钟来源频率更 快。） at-speed 就是实速测试， 主要用于 scan 测试－即 AC 测试和 mbist 测试。这种测试手段 的目的是－测试芯片在其工作频率下是否能正常工作，实速即实际速度。测试时钟往往是 由芯片内部的 PLL 产生很快的测试时钟，用于实速测试。